8 /20μs波形の意味

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10 /350μS：典型的な電力線や避雷針を直接攻撃する雷の電流曲線であり、一般に直接雷波形（一般に第XNUMXレベルの保護）と呼ばれる、地球の絶縁破壊の雷電流曲線。

8 /20μS：一般に誘導雷波形（一般に二次保護）と呼ばれる、地上での典型的な雷破壊によって引き起こされる電磁パルス誘導過電圧破壊および機器の焼損の電流曲線。

理論によれば、同じ雷電流の下で10/350と8/20の場合、10/350と8/20の雷ジュールエネルギーの比率は17.5：1です。

1.2 / 50％8 /20μS複合波：1.2 /50μSは開回路電圧波形、8 /20μSは短絡電流波形です。低インピーダンステスト製品の場合：複合波発生器のアナログ出力8 /20μS波形は、インパルス電流発生器として使用できます。高インピーダンス試験製品の場合、インパルス電圧発生器として使用できる1.2 /50μSの波形を出力します。低電圧システムでは、サージプロテクタをテストするために、関連する規格では、主にXNUMXつの考慮事項に基づいて、混合波形を使用して雷電磁パルスをシミュレートすることが提案されています。

1）場合によっては、試験製品のインピーダンスが不明であり、試験製品の内部衝撃保護部品が作用して、クランプや短絡、絶縁フラッシュオーバー、部品の故障などが発生し、インピーダンスが発生することがあります。衝撃の影響下で変化する試験製品の。単一のインパルス電圧またはインパルス電流を使用してその特性を完全にテストすることは困難です。

2）落雷によって引き起こされる電磁パルスの場合、開回路電圧と短絡電流は、同じ現象のXNUMXつの異なる側面にすぎません。実際の電磁パルス環境でテスト製品が高抵抗から低抵抗に変化すると、元の衝撃電圧はすぐにインパルス電流に変換されます。つまり、インパルス電圧とインパルス電流は同じものの異なる兆候です。機器の負荷状態によって相互に変換されます。

上記のXNUMXつの状況により、サージ保護デバイスをテストする場合、混合波形は低電圧システムでの雷電磁パルスの実際の状況を十分に反映できると考えられます。テスト中にテスト製品のインピーダンスが変化すると、インパルス電圧と突入電流が自動的に変換されるため、テスト製品のパフォーマンスをより適切に評価できます。

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中国の紹介：GB / T 16927.1-1997 [1]高電圧試験技術パート1：一般的な試験要件国家規格（GB）GB / T 16927.1-1997この規格は、使用される用語、一般的な試験手順および試験製品を指定します要件、試験電圧および電流の生成、テスト方法、テスト結果の処理方法、および適格性のテスト基準。